"Cigarra- morfología del ojo y de la ala."
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Microscopio Electrónico de Barrido
Equipamiento: EVO15, Zeiss Company, Germany.
El Microscopio Electrónico de Barrido (MEB) es un instrumento versátil, que posibilita la obtención de imágenes y caracterización superficial de materiales orgánicos e inorgánicos, proveyendo informaciones acerca de la morfología y de composición química rápida, simultáneamente. Este microscopio opera en los modos de alto y bajo vacío, con detectores de electrones secundarios y dispersados para ambos los modos de vacío, emitidos tras la interacción con la muestras de un haz incidente de hasta 30KeV. Posee una amplia cámara de trabajo para muestras de hasta 145 x 250 mm.
Análisis Morfológico (MEB)
El principio operativo básico del MEB implica la creación de un haz enfocado de electrones energéticos por medio de la emisión de una fuente de electrones. La interacción del haz de electrones con la muestra produce dos productos de electrones salientes: (1) Electrones Retrodispersados (BSE) y (2) Electrones Secundarios (SE). Estas señales de electrones salientes en cada ubicación de escaneo de la muestra se miden usando detectores de electrones. Con ayuda de estos, las señales se digitalizan y se usan para determinar el nivel de gris en la ubicación XY correspondiente de una pantalla de computadora formando así una imagen en escala de grises.
La información general sobre las propiedades de la muestra analizada que se puede obtener de las imágenes MEB son: microestructura composicional usando detección de Electrones Retrodispersados (BSE) y morfología usando detección de Electrones Secundarios (SE).
Análisis Composicional (EDS)
La interacción del haz con la muestra produce dos tipos de emisiones de fotones de Rayos X que componen el Espectro de Rayos X: (1) Rayos X Característicos y (2) Rayos X Continuo. Los Rayos X Característicos poseen energías específicas las cuales proporcionan una huella digital específica para cada elemento. Este Espectro de Rayos X se puede utilizar para identificar y cuantificar los elementos específicos presentes en el volumen de interacción del haz de electrones y la muestra.
El Espectro de Rayos X se mide con la técnica analítica “Espectroscopía de Energía Dispersiva de Rayos X” (EDS), posible gracias al Detector EDS (Modelo Bruker XFlash 6|10) que posee el MEB. Esta técnica admite el microanálisis cualitativo y cuantitativo de Rayos X, que implica asignar los picos característicos reconocidos en el espectro a elementos específicos, y determinar la intensidad característica de cada pico.
Recubrimiento de muestras (Au-C)
En el Microscopio Electrónico de Barrido (MEB) el haz de electrones interacciona con la muestra en una cámara que debe operar en condiciones de vacío con el fin de minimizar dispersiones no deseadas de los electrones del haz, así como de los electrones salientes producidos en dicha interacción, al encontrarse con átomos y moléculas de gases atmosféricos. Además de esto, las muestras no conductoras, en condiciones de alto vacío, desarrollan una carga eléctrica superficial debido al impacto de electrones del haz. Por lo tanto, muestras no conductoras deben recibir un recubrimiento conductor, con el fin de tener mejores condiciones de obtención de imágenes durante el análisis morfológico.
Este recubrimiento con material conductor, el cual puede ser Oro o Carbono, se realiza con un equipo específico para dicho fin (Quorum, Modelo Q150R ES Plus).
SERVICIOS - Labioymat-FP UNA
Aranceles de los servicios Labioymat
Resolución n° 0174/2022 - 11/02/2022
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Procedimientos a seguir para solicitar el servicio
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Formulario de solicitud
Consultas y aclaraciones
Solicitud de servicio - Lic. Arami Almada
(aalmada@pol.una.py)
Apoyo Tecnico y de preparación de muestras - Ing. Andrea Maldonado (andreabeatrizmn@pol.una.py)
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